SERVICE 関連技術と使用機器

• 使用機器 ICP-MS

  誘導結合プラズマ質量分析は、試料中の微量元素を高感度かつ多元素同時に定量・定性分析できる分析法で、アルゴン(Ar)プラズマで試料をイオン化し、質量分析計で質量電荷比(m/z)に応じて分離・検出することで、微量分析に利用されています。

  

• 使用機器 MC-ICP-MS

  マルチコレクタ型誘導結合プラズマ質量分析は、ICP（誘導結合プラズマ）の優れたイオン化能力と、複数の検出器（コレクタ）で一度に複数の同位体を精密に測定する磁場セクター型質量分析計の能力を組み合わせた装置で、同位体比の極めて高精度な測定を実現します。

  

• 使用機器 TIMS

  マルチコレクタ表面電離型質量分析は、主に金属元素などの同位体比分析（IRMS）のための表面電離型質量分析です。精製後の試料をフィラメントに塗布し、真空下で熱イオン化させる手法により測定します。

  

• 使用機器 XRD

  X線回折法は、試料にX線を照射し回折X線を検出して、対象物の結晶構造、結晶方位、残留応力、転位密度、結晶子サイズなどを非破壊で解析する技術です。